高溫塞貝克系數及電導率測試系統

產品型號：HC-RD-1100

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-03-12

產品簡介：

HC-RD-1100高溫塞貝克系數及電導率測試系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HC-RD-1100高溫塞貝克系數及電導率測試系統由華測儀器生產，是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率，該產品具有寬溫區覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。

產品參數

01.溫度范圍:RT~800/1100/1200℃

02.測量原理：塞貝克系數:靜態直流法;電阻率:四端法

03.氣氛:惰性、氧化、還原、真空

04.樣品支架:三明治結構夾于兩電極之間

05.樣品尺寸(圓柱形或棱柱形):2至5mm(面寬)，23mm，φ6mm，23mm

06.樣品尺寸(圓盤狀):10、12.7、25.4 mm

07.可調探頭距離:4、6、8mm

08.塞貝克系數測量范圍:1~ 2500uV/K準確度±7%;重復性±3%

09.電導率測量范圍:0.01~2*10⁵s/cm準確度±5-8%;再現性±3%

10.電源:0~1A，具有長期穩定性

11.電極材料:鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)

12.熱電偶:K/S/C型