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    基礎信息Product information
    產品名稱:

    數據數顯低壓漏電起痕試驗儀

    產品型號:HCLD-2

    廠商性質:生產廠家

    所在地:北京市

    更新日期:2026-02-04

    產品簡介:

    華測儀器HCLD-2數據數顯低壓漏電起痕試驗儀用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質聯合作用下的耐漏電性能,測定其相比電痕化指數 (CTI) 和耐電痕化指數(PTI) 。

    產品特性Product characteristics
    品牌華測

    華測儀器HCLD-2數據數顯低壓漏電起痕試驗儀

    價格僅供參考,如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例,歡迎致電我司技術工程師


    HCLD-2數據數顯低壓漏電起痕試驗儀由華測儀器生產,是根據耐漏電起痕試驗(電痕化指數試驗)的標準,規定的模擬仿真試驗項目;采用高度集成化設計,內置智能測試軟件,通過12寸觸摸屏控制,操作簡單,具備試驗穩定性,并有斷電資料保存功能,可實現數據圖像的保存恢復,支持多種測試標準。


    產品特點

    1.帶有濾波、隔離變壓器、穩壓變壓器

    2.自動化程度高

    3.帶有排風口

    4.具有數據數顯、存儲功能

    5.具有過流保護、過壓保護、門限保護等



    產品參數

    試驗電壓:100V ~ 1000V(可定制)

    控制方式:12寸觸摸屏控制系統

    滴液高度:30 ~ 40mm 連續可調

    試驗電壓壓降:≤5%

    電極距離:4.0mm±0.1mm,夾角 60°±5

    電極壓力:1.0±0.05N(可調)

    滴液間隔時間:1s ~ 999s

    短接電流:1A

    試驗艙材料:PC塑料

    滴液大小:(20.0 ~ 23.0)mm3連續可調

    操控方式:12寸觸摸屏

    電極材料:電極頭鉑金

    試驗終止:50滴或100滴或漏電流≥0.5A并維持時間≥2s

    供電電源:220V 50Hz 10A


    應用領域

    耐漏電起痕試驗是評價電工電子產品中使用的固體絕緣材料優劣的重要指標,被普遍應用于電工電子、電器、半導體封裝、信息技術設備、改性塑料等領域。


    數據數顯低壓漏電起痕試驗儀





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