半導(dǎo)體材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀器

產(chǎn)品型號(hào)：HTDM-10

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2025-12-17

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

半導(dǎo)體材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀器，主要用于：多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用。

產(chǎn)品特性Product characteristics

品牌	華測(cè)

多半導(dǎo)體材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀器

型號(hào)：HTDM-10

1、主要用于：多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用

2、光耦繼電器，高速又耐用

3、切換時(shí)間 1 ms

4、高速I(mǎi)/O 輸出控制

半導(dǎo)體材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀器

LCR 多路測(cè)試軟件

1、掃描、比較器

針對(duì)所有通道設(shè)置測(cè)試條件（量程、頻率、比較器等）

可zhiding某個(gè)通道的 ON 與 OFF

可循環(huán)進(jìn)行掃描測(cè)試

同時(shí)可在本地保存測(cè)試條件

2、OPEN&SHORT 補(bǔ)償

可對(duì)應(yīng)各通道的開(kāi)短路補(bǔ)償

如若利用 LCR 的設(shè)置切換功能則需要較長(zhǎng)的切換時(shí)間，在軟件內(nèi)進(jìn)行了開(kāi)短路補(bǔ)償計(jì)算，可維持高速的掃描時(shí)間

3、數(shù)據(jù)保存

掃描的數(shù)據(jù)可根據(jù)通道進(jìn)行保存

半導(dǎo)體材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀器

公司主營(yíng)產(chǎn)品：

幾大系列：功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。